时间：5.29（星期三）上午10：00

地点：电信学院5-214

报告摘要

随着后摩尔时代器件尺寸的不断缩小，对器件的光学性能以及可靠性的要求越来越高。然而，目前大多数测量和表征手段是静态的，需要一种技术和方法，可以在原子尺度动态地观察器件结构在光场、电场作用下的演化过程，揭示影响器件可靠性的关键因素。本报告将介绍我们近期在原位器件纳米结构与性能的动态调控机制研究的进展。

报告人简介

吴   幸

Email: xwu@ee.ecnu.edu.cn

吴幸，研究员，现就职于华东师范大学，信息科学技术学院电子工程系。一直从事微电子学专业，2008年获得西安交通大学学士学位，2012年获得新加坡南洋理工大学博士学位，随后在新加坡科技与设计大学和东南大学从事研究工作，2014年起任华东师范大学紫江青年研究员。在Nature Communications、Advanced Materials、Applied Physics Letters、IEEE Electronic Device Letters等发表论文90余篇，引用率超过2000次。获得中国科协青年人才托举工程、上海市青年科技启明星等。

代表性文章

1.       ACS Nano., 13, 2511, (2019).
2.       Adv. Mater., 30, 1703025, (2018).
3.       Adv. Sci., 5, 1800096, (2018).
4.       ACS Appl. Mater. Inter., 9, 24148, (2017).
5.       Carbon, 127, 491, (2017).